26.5GHz矢網SNA5000A系列,測量頻率范圍涵蓋 100 kHz-26.5 GHz,支持 2 端口 S 參數測量,差分(平衡)測量,時域測量,頻譜分析,濾波器插入損耗、帶寬、Q 值等一鍵測量,支持端口阻抗轉換、端口擴展功能等。
發(fā)布日期:2024-01-02
一、產品概述:
SNA5000A 系列矢量網絡分析儀,測量頻率范圍涵蓋 100 kHz-26.5 GHz,支持 2 端口 S 參數測量,差分(平衡)測量,時域測量,頻譜分析,濾波器插入損耗、帶寬、Q 值等一鍵測量,支持端口阻抗轉換、端口擴展功能,支持極限測試、紋波測試功能,支持夾具仿真和去嵌入功能,支持線性頻率掃描、對數頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式,支持 SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response 等完備的校準方法,可滿足研發(fā),生產等各種環(huán)境下的應用。
二、26.5GHz矢網SNA5000A系列主要特性:
(1)頻率范圍:100 kHz- 26.5 GHz
(2)中頻帶寬范圍:10 Hz~3 MHz
(3)輸出功率設置范圍:-55 dBm ~ +10 dBm
(4)可選配時域分析選件以及頻譜分析儀選件
(5)校準類型:響應校準,增強響應校準,單端口校準,全二端口校準,TRL 校準
(6)測量分析類型:S 參數測量,差分(平衡)測量,接收機測量,時域分析、極限測試、紋波測試、帶寬分析、阻抗轉換、端口匹配、去嵌功能等
三、26.5GHz矢網SNA5000A系列產品特征:
(一)低噪聲,高動態(tài)范圍
系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個非常重要的指標,它是VNA源的輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000A擁有高達125 dB的動態(tài)范圍,可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景,比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。
(二)外觀設計
不管是在研發(fā)還是在現代化的生產線,區(qū)別于傳統(tǒng)笨重的矢量網絡分析儀,SNA5000A的外觀設計都能為工程師或者產線節(jié)省大量的桌面空間。
(三)多樣化的顯示
除開外觀設計,其不凡的用戶界面,配合上12.1英寸超大觸摸屏與外接的鼠標和鍵盤,讓工程師能更快的添加或刪除窗口,通道和跡線。SNA5000A支持在多個窗口下,添加多條跡線進行S參數測量。并且測量結果,可以多種數據格式顯示,如 Log Mag,Lin Mag,Phase,Delay,Smith,SWR,Polar等,可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數,反射系數,駐波比,阻抗匹配,相位,延時等參數。
(四)時域分析功能及眼圖功能
在微波射頻領域,如何有效消除有害的測試夾具效應是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現測試儀器測試端與器件輸入端的轉接,導致測試結果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗轉換,去嵌入,適配器移除等。
另外,SNA5000A系列還支持TDR時域反射計測量功能,可在時域對傳輸線的特征阻抗,時延等參數進行分析。
四、規(guī)格參數:
型號 | 輸出頻率范圍 | 端口數 | 頻率分辨率 | 幅度分辨率 | 中頻帶寬范圍 | 輸出功率設置范圍 | 動態(tài)范圍 |
SNA5032A | 100 kHz-26.5 GHz | 2 | 1Hz | 0.05dB | 10 Hz~3 MHz | -55 dBm ~ +10 dBm | 125dB |
SNA5022A | 100 kHz-13.5 GHz | 2 | 1Hz | 0.05dB | 10 Hz~3 MHz | -55 dBm ~ +10 dBm | 125dB |
五、其他產品
普通的電流探頭,只能測低頻小電流或者瞬間大電流,對于高頻持續(xù)大電流,需要用到柔性電流探頭即羅氏線圈。特別是高壓環(huán)境,柔性電流探頭可以定制隔離絕緣層,即使2kV-5kV的高壓環(huán)境,也可以正常測試。CP9000A系列柔性電流探頭是僅測試AC電流信號的探頭,具有高帶寬,高精度(典型值2%)等特點??梢詫崿F寬廣的電流測量范圍,頻率可從1Hz到15MHz,電流范圍從數安培級別到數百千安培級別,大大解決了電流測試的難題。其主要特點包括:線圈輕巧柔軟且可以自由插拔,可以探測到許多硬制探頭無法達到的地方,輕而易舉的實現與被測對象連接;插入損耗幾乎為零,僅為幾個皮亨,對被測對象近乎為零的干擾;標準的BNC輸出接口,很方便實現與示波器,數據采集器,數字電壓表等連接,觀測電流波形;4節(jié)5號電池供電或者外部USB DC5V電源供電,使用更加靈活方便;聲光過流報警功能,更具人性化設計;探頭環(huán)和連接線長度可以根據客戶要求定制,滿足特殊場合測試要求。