一、MIPI D-PHY物理層CTS測試
MIPI D-PHY物理層測試主要涉及的測試項目包括（根據(jù)mipi_D-PHY-v2-1_CTS_v1-0）：
（1）TX Timers and Signaling
（2）RX Timers and Electrical Tolerances
（3）Interface Impedance and S-Parameters
其中，Tx測試基于示波器和自動化測試軟件完成，Rx測試基于高速任意波形發(fā)生器完成，S參數(shù)涉及阻抗測試基于網(wǎng)絡(luò)儀或TDR完成，如下圖總結(jié)：
圖：MIPI D-PHY物理層測試方案總結(jié)
（一）MIPI D-PHY Tx測試概覽：
Tx測試主要基于示波器和自動化軟件完成，根據(jù)MIPI D-PHY各版本的速率及規(guī)格參數(shù)需要選擇合適帶寬的示波器，按照MIPI 協(xié)會的要求，針對不同速率的MIPI版本示波器帶寬及選用的自動化測試軟件如下：
圖：MIPI D-PHY Tx測試示波器帶寬及軟件推薦
對于 MIPI 芯片或模組的測試可以根據(jù) MIPI 協(xié)會推薦的方法設(shè)計評估板 TVB（Test Vehicle Board）把信號輸出轉(zhuǎn)換成標準的SMA 接口輸出，并結(jié)合協(xié)會提供的 RTB（Reference TerminationBoard）進行信號測試。RTB 板提供標準的匹配切換以及不同的線路容性的選擇，如下圖：
圖：基于TVB（Test Vehicle Board）的MIPI D-PHY芯片或模組測試
而對于系統(tǒng)廠商如手機廠商等，由于系統(tǒng)設(shè)計已經(jīng)完成，要進行MIPI的信號測試只能使用焊接或點測探頭連接PCB上的實際信號進行測試，以下是典型的連接圖：
圖：MIPI D-PHY板級測試連接
為了提高測試的效率，測試中推薦采用 4 支探頭分別連接 clk+/clk- 和 data+/data- 信號進行測試，之所以每個差分對需要兩個探頭進行測試是因為在 D-PHY 的信號線上HS和LP兩種模式并且這兩種模式端接方式不同，僅僅使用一個差分探頭測試無法滿足DUT工作要求。對于有多條數(shù)據(jù) Lane 的情況，可以每條 Lane 分別測試。
測試系統(tǒng)的核心是D9020DPHC MIPI 一致性測試軟件平臺，這個軟件采用圖形化的界面指導用戶完成測試參數(shù)的設(shè)置和連接，并自動完成信號質(zhì)量的測試和測試報告的生成，對用戶非常的友好，能夠極大的提高測試效率。
MIPI D-PHY測試復雜，需要了解它的工作原理，涉及LP模式的測試序列、HS模式的測試序列、HS進入、HS退出、電壓參數(shù)、時間參數(shù)等，如下內(nèi)容：
Section1 Tx 信號包括：
（1）數(shù)據(jù)LP-TX信號：ULPS序列等、50pF、lane0~lane4、DUT通常是CSI-2/DSI Master
（2）時鐘LP-TX：ULPS序列等、50pF、Clock lane、DUT通常是CSI-2/DSI Master
（3）數(shù)據(jù)HS-TX：HS Burst序列（包括LP退出/進入序列）、DUT是CSI-2/DSI Master、Lane0/1(ZID=100),Lane2/3(ZID:125/80)(HS-Entry測試項)、Lane0/1/2/3(ZID:100-125-80)(HS-TX Diff Voltage\Single-Ended High Voltage\Static Common-Mode Voltage&Mismatch\tR\tF)、Lane0/1/2/3(ZID:100)(HS-TX Dynamic Common-Level Variations\HS Exit)
（4）時鐘HS-TX：HS Burst序列（包括LP退出/進入序列）、DUT是CSI-2/DSI Master、Clock(ZID:100)(HS Entry\Common-Level Variations\HS Exit\HS Clock\SSC\Period Jitter)、Clock(ZID:80/125/100)（HS-TX Diff Voltage\tR\tF）
（5）時鐘/數(shù)據(jù)時序要求：HS Burst序列（包括LP退出/進入序列）、DUT是CSI-2/DSI Master/，ZID=100
（6）低功耗初始化序列/超低功耗序列/BTA要求：Init/ULPS/BTA序列、DUT是CSI-2/DSI Master&Device,50pF
下面針對其中測試參數(shù)簡單舉例進行說明：
1）數(shù)據(jù)信號LP-TX的VOH/VOL電平測試需要DUT數(shù)據(jù)lane0~lane3分別連到50pF電容負載板進行測試，DUT要產(chǎn)生ULPS序列。如何產(chǎn)生該序列，序列有什么特點，參考如下，DUT需要工作在LP-Escape Mode并使能ULPS命令（‘00011110’），該模式是異步模式，采用Space-one-hot編碼，對端的時鐘信號是通過EXOR（Dp，Dn）獲取。
圖：Escape mode的LP序列
（2）高速數(shù)據(jù)信號HS-TX差分電壓VOD(0)、VOD(1)是非常重要的，關(guān)系到測量時間參數(shù)的電平標準。這里選擇基于脈沖的測量方法并使用平均的數(shù)據(jù)處理算法。HS序列并沒有使用常用的編碼方式實現(xiàn)直流平衡，為保證測量一致性、重復性和數(shù)據(jù)內(nèi)容易獲取，這里選擇兩種參考碼型（‘011111’/’100000’）作為數(shù)據(jù)源先對齊再平均處理，這種連1和連0在內(nèi)容中相對典型也可以考慮電容效應(yīng)和阻抗適配效應(yīng)。測試時考慮時鐘和數(shù)據(jù)同時測量，需要對探頭進行deskew，為保證電壓測量準確，需要示波器符合儀器校準要求。如果是芯片測試，那么要求lane0~3要遍歷RTB的不同負載（80/125/100）。
圖：VOD(1)測量波形
（3）高速時鐘與數(shù)據(jù)時序參數(shù)Tskewcal-sync/Tskewcal。DUT工作速率超過1.5Gbps，需要支持clock/data的deskew。
這要求DUT要產(chǎn)生HS Burst Sequence，這個序列要包括LP-11/LP-01/LP-00/HS-0/同步碼/校準碼/HS-TRAIL/HS-EXIT,具體序列波形如下，其中同步碼要求是16個連1，校準碼要求是4096個UI（0/1交替實現(xiàn)）。
圖：HS-TX SkewCal同步和校準序列
如下展示了利用示波器針對該序列（速率約2Gbps）進行時間參數(shù)測量，其中Tskewcal-sync明顯沒有滿足典型16個1的時間要求，Tskewcal明顯沒有滿足典型4096個UI的時間要求。
圖：HS-TX Tskewcal-sync測量
圖：HS-TX Tskewcal測量
（4）芯片測試有專門的測試板TVB和RTB可以輔助用戶按照標準進行conformance。如果是移動終端產(chǎn)品，那么測量會相對復雜，會面臨空間狹小、電磁環(huán)境復雜、負載參數(shù)與標準相比有差異等，測量參數(shù)和結(jié)果可以作為參考，全面測量通過挑戰(zhàn)很大。
（二）MIPI D-PHY Rx測試概覽：
Rx的測試，基于高速任意波形發(fā)生器配合自動化測試軟件完成，用M8190/95A生成特定的波形信號模擬MIPI D-PHY的Tx信號，信號經(jīng)過示波器校準后，輸入DUT的Rx，在DUT內(nèi)完成測試，測試結(jié)果可以通過讀取DUT的Error Counter或通過PPI接口讀取DUT內(nèi)部數(shù)據(jù)或者觀察圖像信息等，尤其是LP-RX這取決于DUT的能力。系統(tǒng)測試框圖如下：
圖：MIPI D-PHY Rx測試框圖
前文中提到，由于MIPI D-PHY信號包括高速HS和低功率LP模式，具有不同的信號振幅、數(shù)據(jù)率和格式，HS和LP的Rx測試模式需要在不同的信號電平、數(shù)據(jù)率和格式之間進行無縫切換。而MIPI的D-PHY CTS（Conformance Test Suite）定義了一系列不同的信號設(shè)置和校準規(guī)范，用M8085DC1A可以完成自助地完成上述的校準，信號生成及測試的過程，可以讓用戶在不需要深入學習CTS規(guī)范的前提下完成快速設(shè)置與測試，可極大的節(jié)省學習周期及測試時間。
M8085A軟件可以支持Debug和Conformance測試。支持LP-RX電壓/時序涉及輸入電壓高低、遲滯、小脈寬響應(yīng)、干擾容限、競爭監(jiān)控閾值；LP-Rx行為要求涉及初始化時間、喚醒時間、無效/終止序列、忽略Post-Trigger-Command Extra bits命令的Escape Mode序列、暫未支持命令的Escape Mode序列；HS-RX電壓/建立-保持時間要求涉及共模電壓容限、差分輸入高電平閾值、單端輸入高電平/低電平閾值、正弦共模干擾容忍度、建立-保持時間&抖動容忍度；HS-RX時間參數(shù)要求等，上述這些測試項目通常是使用經(jīng)過校準的電壓、時序等參數(shù)實現(xiàn)的測試序列HS或LP給到DUT，通過觀察DUT是否有接收錯誤為判定標準（可以是圖像是否正?；蛘邤?shù)據(jù)是否正確）。
圖：M8085A可編輯生成HS Burst等
多種格式的數(shù)據(jù)序列
圖：M8085A可產(chǎn)生CSI/DSI格式的幀
圖：M8085A可生成信號電平/抖動/干擾/
通道時延/時間參數(shù)/ISI/延時等可調(diào)序列
二、MIPI D-PHY實測難點
由于MIPI技術(shù)協(xié)議復雜度高，電路板集成度高等特點，在實測中，也有很多需要注意的點。我們總結(jié)了幾個平時測試中經(jīng)常需要注意的問題，希望能夠幫大家在實測中少走一些彎路，提高效率。
1、MIPI D-PHY信號測序項目多，復雜度高
MIPI D-PHY測試項較多，以Tx測試為例，總共有50多個測試項目，并且會隨著High-Speed Data Rate的數(shù)值大小和DUT依據(jù)規(guī)范的版本不同有所變化，測試復雜度高，雖然CTS詳細規(guī)定每個測試項的設(shè)置和條件，但是如果自己手動設(shè)置的話，還是很容易出錯。
這里推薦使用D9020DPHC MIPI 一致性測試軟件平臺，采用圖形化的界面指導用戶完成測試參數(shù)的設(shè)置和連接，并自動完成信號質(zhì)量的測試和測試報告的生成，不需要對CTS規(guī)范有深入的研究，簡單的幾步設(shè)置就可以完成測試與相應(yīng)報告的輸出，能夠極大的提高測試效率，50多個測試項目完整執(zhí)行下來只需要20~30分鐘。值得注意的是，DUT需要測試的Lane數(shù)越多，相應(yīng)的測試周期也會更長。
2、MIPI板子密度高，測試點難以直接觸及
MIPI技術(shù)主要應(yīng)用于移動端設(shè)備，板子集成度高，焊接點很小，焊接也是D-PHY測試中的一大難題，這對于工程的水平要求很高。當焊接點不準確以及引線太長都會導致信號太差甚至信號出不來從而導致測試無法執(zhí)行，如下圖1所示，板子上的信號點很小。MIPI D-PHY的TX測試需要同時接入4支差分探頭（1對Data，1對Clock），前端的正極接信號，負極接地；在狹小的空間盡量多的引出測試信號，對探頭前端的體積也提出了很高的要求；這里推薦采用N5425B系列探頭前端配合116xB系列探頭放大器，在保持探頭小體積的同時提供良好的信號探測質(zhì)量，下圖2是Tx測試鏈接示意圖與實物圖。
圖1：MIPI實測探頭焊接連接圖
圖2：4支1169B探頭連接25G帶寬示波器示意
與N5425B探頭前端實物
3、Tx測試時夾具的選擇
在一些利用靜態(tài)的高速串行技術(shù)（如PCI Express、SATA 等）中，通常使用測試設(shè)備輸入端口作為測量的參考終端負載來完成100歐姆差分基準端接環(huán)境。但是，因為 MIPI D-PHY技術(shù)利用一個動態(tài)的、可切換的電阻端接在接收器（省電功能），無法使用測試設(shè)備，即示波器作為參考終端，這種可切換的100 歐姆差分參考電阻終端在高速（HS）操作模式下啟用，在低功耗（LP）模式下禁用（打開終端環(huán)境）。
執(zhí)行 MIPI D-PHY 測試測量的常用方法是利用一些測試能夠處理各種所需端接負載的測量夾具選定測試的表格（高速模式或低功耗模式測試），使得在做Tx測試時，夾具的選擇至關(guān)重要。
一般來說，有兩種測試夾具類型可選，一種能夠處理所需的自動切換終端負載另一種一次僅支持一個終端負載，用戶需要在實際測試時根據(jù)需要選擇兩種不同的夾具適配。
4、 對通道探頭延遲進行校準
MIPI總線主要應(yīng)用于智能手機和移動設(shè)備之中，所以MIPI信號對射頻信號的干擾非常重視，通常來說EMI由所以共模噪聲引起，規(guī)范對共模噪聲有嚴格的要求，如D-PHY v2.1標準要求450MHz以上的動態(tài)共模噪聲要小于15mVrms，要滿足這個這個指標，除了優(yōu)化設(shè)計，還需要注意示波器本身的底噪及使用探頭時，在小垂直刻度條件下，測量噪聲盡量要??；為了得到精準共模噪聲參數(shù)，需對通道探頭延遲做校準，減少因通道延遲引入的共模參數(shù)。
5、LP和HS測試組網(wǎng)
C/D-PHY采用LP和HS相結(jié)合的機制，需要注意測試組網(wǎng)的差異，對于HS信號的眼圖測試，例如C-PHY的三相編碼，時鐘恢復比較特殊，需要使用連續(xù)HS碼型進行測試，在芯片測試中，需要通過同軸電纜直接連接到示波器，提升測量信噪比和眼圖裕度。
6、校準工模電平以獲得準確幅度參數(shù)
MIPI芯片測試中HS信號如何保證幅度和共模的準確性，在C/D-PHY中，由于信號本身有共模點，對于HS信號的參數(shù)如眼圖、跳變時間等測試需要將信號通過同軸電纜直接連接到示波器測試，一般來說示波器時50ohm對地的結(jié)構(gòu)，如果直接在示波器內(nèi)測量，會導致共模點電平減少，為了保證準確的共模電平及幅度，需要使用N7010A端接適配器，在C/D-PHY測試軟件中，通過N7010A校準，校準共模電平，從而得到準確幅度參數(shù)
7、 Rx測試中同步AWG以生成更高速率
Rx測試中，因為信號的多電平特性，及需要測量eSpike等參數(shù)，為了達到未來更高速率的標準如D-PHY v3.0，測試需要使用高性能AWG，將兩個AWG同步起來產(chǎn)生達到10G符號速率的C-PHY或D-PHY信號。
